本标准规定了特殊结构的电子数显外径千分尺的术语和定义、通用型式与基本参数、通用要求、通用检验方法、特殊型式和参数以及特殊要求与检验方法、试验方法、标志与包装。
本标准适用于分辨力为0.001mm,量程小于或等于25mm,测量范围上限至500mm的特殊结构的电子数显外径千分尺(以下简称“特殊电子千分尺”)。文章源自图集吧-https://www.tanluxing.com/7342.html
特殊电子千分尺的测量面的平行度误差可用四块平行平面的检验平晶检验,检验平晶的厚度差约为测微螺杆螺距的1/3或1/4。将平晶置于两测量面间,调整平晶使两测量面上的干涉带或干涉环的数目尽可能少,在测力作用下,读取两测量面上光波干涉带条纹的总条数,一条干涉带等于0.3um,从而计算出平行度误差。文章源自图集吧-https://www.tanluxing.com/7342.html
允许用量块或平行度检查仪检验测量面的平行度误差。使用量块检验时,用四个尺寸差约为测微螺杆螺距1/4,准确度为1级的量块,在距测量面边缘B范围内的两测量面之间相互垂直的4个位置(宽度≤2mm的测量面为两端位置),分别放入量块进行测量,得到对该量块测量的最大值与最小值之差,取对4个量块测量中最大值与最小值之差的最大值作为测量面的平行度误差。5≤20mm时,B=2mm:>20mm时,B=3mm;其中:为测量面直径,B不包括量块测量面的倒角。直进式测微螺杆的特殊电子千分尺的测量面平行度误差可用一块平行平晶或一个量块按上述方法检验。文章源自图集吧-https://www.tanluxing.com/7342.html
在距测量面边缘0.5mm范围内的平行度忽略不计。测量面接触的直径小于3mm或面积小于3mm2时,不检验平行度。文章源自图集吧-https://www.tanluxing.com/7342.html
文章源自图集吧-https://www.tanluxing.com/7342.html 文章源自图集吧-https://www.tanluxing.com/7342.html